Влияние быстрого термического отжига на формирование омических контактов алюминий-кремний и алюминий-поликремний в интегральных микросхемах
- Авторы: Жигулин Д.В.1, Пилипенко В.А.1, Шестовский Д.В.1
-
Учреждения:
- Открытое акционерное общество “ИНТЕГРАЛ” – управляющая компания холдинга “ИНТЕГРАЛ”
- Выпуск: Том 54, № 4 (2025)
- Страницы: 333-338
- Раздел: ТЕХНОЛОГИИ
- URL: https://rjdentistry.com/0544-1269/article/view/690998
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0544126925040076
- EDN: https://elibrary.ru/QHQGRQ
- ID: 690998
Цитировать
Полный текст



Аннотация
Представлены результаты исследования влияния термического отжига на формирование омических контактов алюминий-кремний и алюминий-поликремний на стадии изготовления современных интегральных микросхем. Установлено, что стандартный термический отжиг при температуре 450 оС в течение 20 мин в азоте приводит как к растворению кремния в алюминиевых контактах с последующим образованием рекристаллизованных островков кремния р-типа на границе раздела алюминий-кремний, так и к растворению поликремния, с последующим выделением его в виде остроугольных конгломератов. При использовании быстрого термического отжига (Tmax = 450 оС, 7 с, N2) образование таких конгломератов не обнаружено. Растворение поликремния (кремния) в алюминии при формировании омических контактов алюминий-поликремний (алюминий-кремний) приводит к изменению величины контактного сопротивления поликремниевых резисторов и вольт-амперных характеристик биполярных транзисторов.
Об авторах
Д. В. Жигулин
Открытое акционерное общество “ИНТЕГРАЛ” – управляющая компания холдинга “ИНТЕГРАЛ”
Email: zhygulin@mail.ru
Минск, Беларусь
В. А. Пилипенко
Открытое акционерное общество “ИНТЕГРАЛ” – управляющая компания холдинга “ИНТЕГРАЛ”
Email: zhygulin@mail.ru
Минск, Беларусь
Д. В. Шестовский
Открытое акционерное общество “ИНТЕГРАЛ” – управляющая компания холдинга “ИНТЕГРАЛ”
Автор, ответственный за переписку.
Email: zhygulin@mail.ru
Минск, Беларусь
Список литературы
- Semiconductor Devices: Physics and Technology / ed.: S. M. Sze, M.-K. Lee. – 3th ed. – Hoboken, N.J: Wiley, 2012. – 592 p.
- Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на кремнии. Т. 3 / Под ред. Турцевича А. С. Минск: Изд-во “Интегралполиграф”, 785 с.
- Franssila S. Introduction to microfabrication. – John Wiley and Sons, 2010. – 518 p.
- Пилипенко В.А. Быстрые термообработки в технологии СБИС. Минск: Издательский центр БГУ, 2004. 531 с.
- Пилипенко В.А., Ковальчук Н.С., Жигулин Д.В. Влияние длительной и быстрой термообработок на формирование границы раздела алюминий – поликремний // Журнал Белорусского государственного университета. Физика. 2023. № 2. С. 51–57.
- Пилипенко В.А., Ковальчук Н.С., Жигулин Д.В, Шестовский Д.В., Анищик В.М., Понарядов В.В. Механизм взаимодействия алюминия с поликремнием при формированиее омического контакта методами длительной и быстрой термообработок // Журнал Белорусского государственного университета. Физика. 2024. № 1. С. 42–48.
- Пилипенко В.А., Ковальчук Н.С., Шестовский Д.В., Жигулин Д.В. Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-поликремний после воздействия длительного и быстрого термических отжигов // Приборы и методы измерений. 2024. Т. 15. № 2. С. 104–109. https://doi.org/10.21122/2220-9506-2024-15-2-104-109
Дополнительные файлы
