Electron diffraction structure analysis of the amorphous polytetrafluoroethylene film

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

A thin amorphous film of fluoroplast (polytetrafluoroethylene) was obtained and studied by the electron diffraction structure analysis methods. The previously developed method of constructing the radial distribution function of atoms by the electron diffraction patterns from amorphous structures is applied, based on the determination of the normalization coefficient by varying the thermal parameter. The possibility of applying and necessary adaptations of this technique for the studied polytetrafluoroethylene samples are shown, taking into account its not quite usual amorphous structure due to the rigid spiral conformation of polymer chains …–CF2–…, which does not allow us to speak about the complete absence of the long-range order of the arrangement of atoms along the direction of the spiral axis. The measurements were carried out using the developed registration system on the electron diffraction camera EMR-102.

Full Text

Restricted Access

About the authors

A. K. Kulygin

Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”

Author for correspondence.
Email: avilovanatoly@mail.ru
Russian Federation, Moscow

N. V. Sadovskaya

Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”; Limited Liability Company “Arflon”

Email: avilovanatoly@mail.ru
Russian Federation, Moscow; Moscow

A. S. Avilov

Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”

Email: kuligin57@gmail.com
Russian Federation, Moscow

O. I. Vasin

Stemenko Krasnodar Higher Military School

Email: avilovanatoly@mail.ru
Russian Federation, Krasnodar

References

  1. Паншин Ю.А., Малкевич С.Г., Дунаевская Ц.С. Фторопласты. Л.: Химия, 1978. 232 с.
  2. Бузник В.М. Фторполимерные материалы. Томск: Изд-во НТЛ, 2017. 600 с.
  3. Clark E.S. // Polymer. 1999. V. 40. P. 4659.
  4. Фомин С.В. Индустрия фторопластов: реальность и перспективы / openauditorium.edunano.ru, вебинар от 18.09.2018.
  5. Bouznik V.M., Kirik S.D., Solovyov L.A., Tsvetnikov A.K. // Powder Diffraction. 2004. V. 19. № 3. P. 219.
  6. Bunn C.W., Howells E.R. // Nature. 1954. V. 174. P. 549.
  7. Хатипов С.А., Артамонов Н.А. // Рос. хим. журн. (Журн. Рос. хим. о-ва им. Д.И. Менделеева). 2008. Т. LII. № 3. С. 89.
  8. Острер С.Г. Фторполимеры в химической промышленности. Пермь, 2019. 398 с.
  9. Rigby H.A., Bunn C.W. // Nature. 1949. V. 164. P. 583.
  10. Prierce R.H.H. Jr., Clark E.S., Whitney J.F., Bryant W.M.D. Crystal Structure of Polytetrafluoroethylene. Abstract of Papers, 130th Meeting of the American Chemical Society. 1956. Sept. P. 9S.
  11. Clark E.S., Muus L.T. // Z. Kristallogr. 1962. B. 117. S. 119.
  12. Eby R.K., Clark E.S., Farmer B.L. et al. // Polymer. 1990. V. 31. № 12. P. 2227.
  13. Clark E.S. // J. Macromol. Sci. B. 2006. V. 45. № 2. P. 201.
  14. Clark E.S., Weeks J.J., Eby R.K. // ACS Symposium Ser. 1980. V. 141. P. 184.
  15. Лебедев Ю.А., Королев Ю.М., Поликарпов В.М. и др. // Кристаллография. 2010. Т. 55. № 4. С. 651.
  16. ГОСТ 8433-81 “Вещества вспомогательные ОП-7 и ОП-10”.
  17. Новикова В.В., Кулыгин А.К., Лепешов Г.Г., Авилов А.С. // Кристаллография. 2018. Т. 63. № 6. С. 876.
  18. Suwa T., Takeshita M., Machi S. // J. Appl. Polym. Sci. 1973. V. 17. № 11. P. 3253.
  19. Lehnert R.J., Hendra P.J., Everall N., Clayden N.J. // Polymer. 1997. V. 38. № 7. P. 1521.
  20. Кулыгин А.К., Кулыгин К.В., Авилов А.С. // Кристаллография. 2020. Т. 65. № 2. С. 325.
  21. LTR35 Многоканальный генератор-ЦАП сигналов и цифрового ввода-вывода. https://www.lcard.ru/products/ltr/ltr35
  22. PCIe-9834 4-CH 16-Bit 80 MS/s PCI Express Digitizer. https://www.adlinktech.com/Products/GPIB_Modular_Instruments/Digitizers_Oscilloscopes/PCIe-9834
  23. International Tables. Second Edition. 1994. Vol. C. Р. 257.
  24. Васин О.И., Гладышева Г.И., Дагман Э.Е. // Кристаллография. 1983. Т. 28. Вып. 3. С. 446.
  25. Васин О.И., Кулыгин А.К., Новикова В.В., Авилов А.С. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 5. С. 732.
  26. Васин О.И., Новикова В.В., Кулыгин А.К., Авилов А.С. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 2020. № 10. С. 105.
  27. Татаринова Л.И. Электронография аморфных веществ. М.: Наука, 1972. 104 с.
  28. O’Hagan D. // Chem. Soc. Rev. 2008. V. 37. № 2. P. 308.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2. Fig. 1.

Download (88KB)
3. Fig. 2.

Download (547KB)
4. Fig. 3.

Download (188KB)
5. Fig. 4.

Download (217KB)
6. Fig. 5.

Download (137KB)
7. Fig. 6.

Download (155KB)
8. Fig. 7.

Download (230KB)
9. Fig. 8.

Download (159KB)
10. Fig. 9.

Download (153KB)
11. Fig. 10.

Download (402KB)

Copyright (c) 2024 Russian Academy of Sciences