Определение оптимальных направлений волнового вектора фазовой голографической решетки в кубическом фоторефрактивном кристалле

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Изучена зависимость изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кубического фоторефрактивного кристалла Bi12SiO20 от направления волнового вектора голографической решетки в кристаллографической системе координат. Показано, что при записи фазовой голограммы наибольшее изменение показателя преломления кристалла Bi12SiO20 достигается при ориентации волнового вектора голографической решетки вдоль симметрично эквивалентных направлений <111>. Установлено, что максимально возможная амплитуда модуляции показателя преломления голографической решетки при ориентации ее волнового вектора вдоль направлений <110> оказывается больше, чем при ориентации вдоль направлений <100>. При расчетах компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла Bi12SiO20 принималось в учет, что запись фазовой голограммы происходит под действием линейного электрооптического, фотоупругого и обратного пьезоэлектрического эффектов.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

В. Н. Навныко

Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина

Автор, ответственный за переписку.
Email: valnav@inbox.ru
Белоруссия, Мозырь

Список литературы

  1. Nikonorov N.V., Petrov V.M. // Opt. Spectrosc. 2021. V. 129. P. 530. http://doi.org/10.21883/OS.2021.04.50764.290-20
  2. Петров М.П., Степанов С.И., Хоменко А.В. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике. СПб.: Наука, 1992. 320 с.
  3. Петров В.М., Шамрай А.В. Интерференция и дифракция для информационной фотоники. СПб.: Лань, 2019. 460 c.
  4. Blazquez-Castro A., Garcıa-Cabanes A., Carrascosa M. // Appl. Phys. Rev. 2018. V. 5. P. 041101. http://doi.org/10.1063/1.5044472
  5. Tao L., Daghighian H.M., Levin C.S. // J. Med. Imaging. 2017. V. 4. № 1. P. 011010. http://doi.org/10.1117/1.JMI.4.1.011010
  6. Kwak C.H., Kim G.Y., Javidi B. // Opt. Commun. 2019. V. 437. P. 95. http://doi.org/10.1016/j.optcom.2018.12.049
  7. Laporte F., Dambre J., Bienstman P. // Sci. Rep. 2021. V. 11. P. 2701. http://doi.org/10.1038/s41598-021-81899-w
  8. Mallick S., Miteva M., Nikolova L. // J. Opt. Soc. Am. B. 1997. V. 14. № 5. P. 1179. http://doi.org/10.1364/JOSAB.14.001179
  9. Sim E.S., Kisteneva M.G., Zhurin T.A., Shandarov S.M. // Russ. Phys. J. 2019. V. 62. P. 132. http://doi.org/10.1007/s11182-019-01693-0
  10. Dadenkov I.G., Tolstik A.L., Miksyuk Yu.I., Saechnikov K.A. // Opt. Spectrosc. 2020. V. 128. P. 1401. http://doi.org/10.21883/OS.2020.09.49867.90-20
  11. Ромашко Р.В., Безрук М.Н., Кульчин Ю.Н. // Квантовая электроника. 2022. Т. 52. № 9. С. 850.
  12. Eichler H.J., Ding Y., Smandek B. // Phys. Rev. A. 1995. V. 52. № 3. P. 2411. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.52.2411
  13. Shamonina E., Kamenov V.P., Ringhofer K.H. et al. // J. Opt. Soc. Am. B. 1998. V. 15. № 10. P. 2552. http://doi.org/10.1364/JOSAB.15.002552
  14. Papazoglou D.G., Apostolidis A.G., Vanidhis E.D. // Ferroelectrics. 1998. V. 205. P. 87. http://doi.org/10.1080/00150199808228390
  15. Kamenov V.P., Hu Yi, Shamonina E. et al. // Phys. Rev. E. 2000. V. 62. № 2. P. 2863. http://doi.org/10.1103/physreve.62.2863
  16. Deliolanis N.C., Kourmoulis I.M., Apostolidis A.G. et al. // Phys. Rev. E. 2003. V. 68. P. 056602. http://doi.org/10.1103/physreve.62.2863
  17. Макаревич А.В., Шепелевич В.В., Навныко В.Н. и др. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 5. С. 769. http://doi.org/10.1134/S002347611905014X
  18. Naunyka V.N., Shepelevich V.V. // Phys. Tech. Lett. 2007. V. 33. P. 726. http://doi.org/10.1134/S1063785007090039
  19. Naunyka V.N., Shepelevich V.V. // Appl. Phys. B. 2009. V. 95. P. 459. http://doi.org/10.1007/s00340-009-3549-1
  20. Plesovskikh A.M., Shandarov S.M., Mart’yanov A.G. et al. // Quantum Electronics. 2005. V. 35. № 2. P. 163. http://doi.org/10.1134/S1063785007090039
  21. Сиротин Ю.И., Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. М.: Наука, 1979. 640 c.
  22. Kogelnik H. // J. Opt. Soc. Am. 1967. V. 57. № 3. P. 431. http://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1969.tb01198.x
  23. Shandarov S.M., Shepelevich V.V., Khatkov N.D. // Opt. Spectrosc. 1991. V. 70. № 5. P. 627.
  24. Александров К.С., Бондаренко В.С., Зайцева М.П. и др. // ФТТ. 1984. Т. 26. Вып. 12. С. 3603.
  25. Леонов Е.И., Бабонас Г.А., Реза А.А., Шандарис В.И. // ЖТФ. 1985. Т. 55. Вып. 6. С. 1203.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать
2. Рис. 1. Схема двухволнового взаимодействия в кубическом фоторефрактивном кристалле: а – пропускающая геометрия, б – отражательная геометрия.

Скачать (116KB)
Метаданные
3. Рис. 2. Указательная поверхность, иллюстрирующая зависимость χᵐᵃˣ от направления вектора решетки К в кристаллографической системе координат.

Скачать (97KB)
Метаданные
4. Рис. 3. Светло-серая (а) и темно-серая (б) части указательной поверхности, представленной на рис. 2.

Скачать (217KB)
Метаданные
5. Рис. 4. Схема, отображающая взаимное расположение указательной поверхности и секущей плоскости, параллельной плоскости среза (100) и проходящей через начало кристаллографической системы координат (а); следы пересечения светло-серой и темно-серой частей указательной плоскости с секущей плоскостью (б).

Скачать (135KB)
Метаданные
6. Рис. 5. Схема, отображающая взаимное расположение указательной поверхности и секущей плоскости, параллельной плоскости среза (110) и проходящей через начало кристаллографической системы координат (а); следы пересечения светло-серой и темно-серой частей указательной плоскости с секущей плоскостью (б).

Скачать (152KB)
Метаданные
7. Рис. 6. Схема, отображающая взаимное расположение указательной поверхности и секущей плоскости, параллельной плоскости среза (112) и проходящей через начало кристаллографической системы координат (а); следы пересечения светло-серой и темно-серой частей указательной плоскости с секущей плоскостью (б).

Скачать (164KB)
Метаданные

© Российская академия наук, 2024