Определение оптимальных направлений волнового вектора фазовой голографической решетки в кубическом фоторефрактивном кристалле
- Авторы: Навныко В.Н.1
-
Учреждения:
- Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина
- Выпуск: Том 69, № 3 (2024)
- Страницы: 451-460
- Раздел: ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
- URL: https://rjdentistry.com/0023-4761/article/view/673182
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476124030103
- EDN: https://elibrary.ru/XOJCFD
- ID: 673182
Цитировать
Аннотация
Изучена зависимость изменения компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кубического фоторефрактивного кристалла Bi12SiO20 от направления волнового вектора голографической решетки в кристаллографической системе координат. Показано, что при записи фазовой голограммы наибольшее изменение показателя преломления кристалла Bi12SiO20 достигается при ориентации волнового вектора голографической решетки вдоль симметрично эквивалентных направлений <111>. Установлено, что максимально возможная амплитуда модуляции показателя преломления голографической решетки при ориентации ее волнового вектора вдоль направлений <110> оказывается больше, чем при ориентации вдоль направлений <100>. При расчетах компонент обратного тензора диэлектрической проницаемости кристалла Bi12SiO20 принималось в учет, что запись фазовой голограммы происходит под действием линейного электрооптического, фотоупругого и обратного пьезоэлектрического эффектов.
Полный текст

Об авторах
В. Н. Навныко
Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина
Автор, ответственный за переписку.
Email: valnav@inbox.ru
Белоруссия, Мозырь
Список литературы
- Nikonorov N.V., Petrov V.M. // Opt. Spectrosc. 2021. V. 129. P. 530. http://doi.org/10.21883/OS.2021.04.50764.290-20
- Петров М.П., Степанов С.И., Хоменко А.В. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике. СПб.: Наука, 1992. 320 с.
- Петров В.М., Шамрай А.В. Интерференция и дифракция для информационной фотоники. СПб.: Лань, 2019. 460 c.
- Blazquez-Castro A., Garcıa-Cabanes A., Carrascosa M. // Appl. Phys. Rev. 2018. V. 5. P. 041101. http://doi.org/10.1063/1.5044472
- Tao L., Daghighian H.M., Levin C.S. // J. Med. Imaging. 2017. V. 4. № 1. P. 011010. http://doi.org/10.1117/1.JMI.4.1.011010
- Kwak C.H., Kim G.Y., Javidi B. // Opt. Commun. 2019. V. 437. P. 95. http://doi.org/10.1016/j.optcom.2018.12.049
- Laporte F., Dambre J., Bienstman P. // Sci. Rep. 2021. V. 11. P. 2701. http://doi.org/10.1038/s41598-021-81899-w
- Mallick S., Miteva M., Nikolova L. // J. Opt. Soc. Am. B. 1997. V. 14. № 5. P. 1179. http://doi.org/10.1364/JOSAB.14.001179
- Sim E.S., Kisteneva M.G., Zhurin T.A., Shandarov S.M. // Russ. Phys. J. 2019. V. 62. P. 132. http://doi.org/10.1007/s11182-019-01693-0
- Dadenkov I.G., Tolstik A.L., Miksyuk Yu.I., Saechnikov K.A. // Opt. Spectrosc. 2020. V. 128. P. 1401. http://doi.org/10.21883/OS.2020.09.49867.90-20
- Ромашко Р.В., Безрук М.Н., Кульчин Ю.Н. // Квантовая электроника. 2022. Т. 52. № 9. С. 850.
- Eichler H.J., Ding Y., Smandek B. // Phys. Rev. A. 1995. V. 52. № 3. P. 2411. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.52.2411
- Shamonina E., Kamenov V.P., Ringhofer K.H. et al. // J. Opt. Soc. Am. B. 1998. V. 15. № 10. P. 2552. http://doi.org/10.1364/JOSAB.15.002552
- Papazoglou D.G., Apostolidis A.G., Vanidhis E.D. // Ferroelectrics. 1998. V. 205. P. 87. http://doi.org/10.1080/00150199808228390
- Kamenov V.P., Hu Yi, Shamonina E. et al. // Phys. Rev. E. 2000. V. 62. № 2. P. 2863. http://doi.org/10.1103/physreve.62.2863
- Deliolanis N.C., Kourmoulis I.M., Apostolidis A.G. et al. // Phys. Rev. E. 2003. V. 68. P. 056602. http://doi.org/10.1103/physreve.62.2863
- Макаревич А.В., Шепелевич В.В., Навныко В.Н. и др. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 5. С. 769. http://doi.org/10.1134/S002347611905014X
- Naunyka V.N., Shepelevich V.V. // Phys. Tech. Lett. 2007. V. 33. P. 726. http://doi.org/10.1134/S1063785007090039
- Naunyka V.N., Shepelevich V.V. // Appl. Phys. B. 2009. V. 95. P. 459. http://doi.org/10.1007/s00340-009-3549-1
- Plesovskikh A.M., Shandarov S.M., Mart’yanov A.G. et al. // Quantum Electronics. 2005. V. 35. № 2. P. 163. http://doi.org/10.1134/S1063785007090039
- Сиротин Ю.И., Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. М.: Наука, 1979. 640 c.
- Kogelnik H. // J. Opt. Soc. Am. 1967. V. 57. № 3. P. 431. http://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1969.tb01198.x
- Shandarov S.M., Shepelevich V.V., Khatkov N.D. // Opt. Spectrosc. 1991. V. 70. № 5. P. 627.
- Александров К.С., Бондаренко В.С., Зайцева М.П. и др. // ФТТ. 1984. Т. 26. Вып. 12. С. 3603.
- Леонов Е.И., Бабонас Г.А., Реза А.А., Шандарис В.И. // ЖТФ. 1985. Т. 55. Вып. 6. С. 1203.
Дополнительные файлы
