Калибровка детекторных пленок Imaging Plates для регистрации заряженных частиц

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Информация об эмитируемых заряженных частицах плазмой сильноточных разрядов представляет интерес как с точки зрения понимания фундаментальных процессов, происходящих в импульсной плазме, так и для прикладных задач. Компактные магнитные спектрометры на основе постоянных магнитов позволяют проводить измерения потока заряженных частиц от плазмы в условиях сильных электромагнитных наводок. Пленочные детекторы Imaging Plate (IP) являются одними из наиболее часто используемых типов детекторов для регистрации заряженных частиц в лазерно-плазменных и электроразрядных экспериментах. В данной работе представлены результаты калибровки пленки IP BAS-MS при регистрации электронов и пленки IP BAS-TR при регистрации ионов гелия и вольфрама. Получены калибровочные зависимости чувствительности пленки BAS-MS для электронов в диапазоне энергий 0.65–50 МэВ и чувствительности пленки BAS-TR для ионов вольфрама в диапазоне энергий от 20 эВ до 650 кэВ с учетом углов падения частиц на детектор.

Об авторах

А. О. Хурчиев

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: ayuxa@inbox.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

В. А. Панюшкин

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

А. В. Скобляков

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

А. В. Канцырев

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

А. А. Голубев

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

Р. О. Гаврилин

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

А. В. Богданов

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

Е. М. Ладыгина

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

С. А. Высоцкий

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Автор, ответственный за переписку.
Email: kantsyrev@itep.ru
Россия, 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

Список литературы

  1. Miyahara J., Takahashi K., Amemiya Y., Kamiya N., Satow Y. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1986. V. 246. P. 572. https://doi.org/10.1016/0168-9002(86)90156-7
  2. Amemiya Y., Miyahara J. // Nature. 1988. V. 336. P. 89. https://doi.org/10.1038/336089a0
  3. Tanaka K.A., Yabuuchi T., Sato T., Kodama R., Kitagawa Y., Takahashi T., Ikeda T., Honda Y., Okuda S. // Rev. Sci. Instrum. 2005. V. 76. P. 013507. https://doi.org/10.1063/1.1824371
  4. Boutoux G., Rabhi N., Batani D., Binet A., Ducret J.E., Jakubowska K., Nègre J.P., Reverdin C., Thfoin I. // Rev. Sci. Instrum. 2015. V. 86. P. 113304. https://doi.org/10.1063/1.4936141
  5. Singh S., Slavicek T., Hodak R., Versaci R., Pridal P., Kumar D. // Rev. Sci. Instrum. 2017. V. 88. P. 075105. https://doi.org/10.1063/1.4993921
  6. Bonnet T., Comet M., Denis-Petit D., Gobet F., Hannachi F., Tarisien M., Versteegen M., Aléonard M. // Rev. Sci. Instrum. 2013. V. 84. P. 103510. https://doi.org/10.1063/1.4826084
  7. Bonnet T., Comet M., Denis-Petit D., Gobet F., Hannachi F., Tarisien M., Versteegen M., Aléonard M. // Rev. Sci. Instrum. 2013. V. 84. P. 013508. https://doi.org/10.1063/1.4775719
  8. Freeman C.G., Fiksel G., Stoeckl C., Sinenian N., Canfield M.J., Graeper G.B., Lombardo A.T., Stillman C.R., Padalino S.J., Mileham C., Sangster T.C., Frenje J.A. // Rev. Sci. Instrum. 2011. V. 82. P. 073301. https://doi.org/10.1063/1.3606446
  9. Doria D., Kar S., Ahmed H., Alejo A., Fernandez J., Cerchez M., Gray R.J., Hanton F., MacLellan D.A., McKenna P., Najmudin Z., Neely D., Romagnani L., Ruiz J.A., Sarri G., Scullion C., Streeter M., Swantusch M., Willi O., Zepf M., Borghesi M. // Rev. Sci. Instrum. 2015. V. 86. P. 123302. https://doi.org/10.1063/1.4935582
  10. Kojima S., Miyatake T., Inoue S., Dinh T.H., Hasegawa N., Mori M., Sakaki H., Nishiuchi M., Dover N.P., Yamamoto Y., Sasaki T., Ito F., Kondo K., Yamanaka T., Hashida M., Sakabe S., Nishikino M., Kondo K. // Rev. Sci. Instrum. 2021. V. 92. P. 033306. https://doi.org/10.1063/5.0035618
  11. Won J., Song J., Palaniyappan S., Gautier D.C., Jeong W., Fernández J.C., Bang W. // Appl. Sci. 2021. V. 11. P. 820. https://doi.org/10.3390/app11020820
  12. Strehlow J., Forestier-Colleoni P., McGuffey C., Bailly-Grandvaux M., Daykin T.S., McCary E., Peebles J., Revet G., Zhang S., Ditmire T., Donovan M., Dyer G., Fuchs J., Gaul E.W., Higginson D.P. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2019. V. 90. P. 083302. https://doi.org/10.1063/1.5109783
  13. Nishiuchi M., Sakaki H., Dover N.P., Miyahara T., Shiokawa K., Manabe S., Miyatake T., Kondo Ko., Kondo Ke., Iwata Y., Watanabe Y., Kondo Ki. // Rev. Sci. Instrum. 2020. V. 91.P. 093305. https://doi.org/10.1063/5.0016515
  14. Zeil K., Kraft S.D., Jochmann A., Kroll F., Jahr W., Schramm U., Karsch L., Pawelke J., Hidding B., Pretzler G. // Rev. Sci. Instrum. 2010. V. 81. P. 013307. https://doi.org/10.1063/1.3284524
  15. Ingenito F., Andreoli P., Batani D., Boutoux G., Cipriani M., Consoli F., Cristofari G., Curcio A., De Angelis R., Di Giorgio G., Ducret J., Forestier-Colleoni P., Hulin S., Jakubowska K., Rabhi N. // JINST. 2016. V. 11(5). P. C05012. https://doi.org/10.1088/1748-0221/11/05/C05012
  16. https://www.duerrdental.com/en/products/imaging/intraoral-diagnostics/vistascan-mini-view/
  17. Nave G., Sansonetti C.J., Szabo C.I., Curry J.J., Smil-lie D.G. // Rev. Sci. Instrum. 2011. V. 82. P. 013107. https://doi.org/10.1063/1.3529879
  18. Lelasseux V., Fuchs J. // JINST. 2020. V. 15. P. 004002. https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/04/P04002
  19. http://www.srim.org/
  20. http://geant4-userdoc.web.cern.ch/geant4-userdoc/UsersGuides/ForApplicationDeveloper/fo/BookForApplicationDevelopers.pdf
  21. Chen H., Back N.L., Bartal T., Beg F.N., Eder D.C., link A. J., MacPhee A.G., Ping Y., Song P.M., Throop A., Van Woerkom L. // Rev. Sci. Instrum. 2008. V. 79. P. 033301. https://doi.org/10.1063/1.2885045

© А.О. Хурчиев, В.А. Панюшкин, А.В. Скобляков, А.В. Канцырев, А.А. Голубев, Р.О. Гаврилин, А.В. Богданов, Е.М. Ладыгина, С.А. Высоцкий, 2023