Эллипсометрический контроль толщины пленок карбида кремния на полиметилметакрилатной основе
- Авторы: Воронов А.П1, Воронов И.А.1, Митрофанов Е.А2
-
Учреждения:
- ГБОУ ВПО «Московский государственный медико-стоматологический университет им. А.И. Евдокимова»
- ОАО «НИИ вакуумной техники им. С.А. Векшинского»
- Выпуск: Том 19, № 1 (2015)
- Страницы: 24-26
- Раздел: Статьи
- Статья получена: 21.07.2020
- Статья опубликована: 15.02.2015
- URL: https://rjdentistry.com/1728-2802/article/view/39332
- DOI: https://doi.org/10.17816/dent.39332
- ID: 39332
Цитировать
Полный текст
![Открытый доступ](https://rjdentistry.com/lib/pkp/templates/images/icons/text_open.png)
![Доступ закрыт](https://rjdentistry.com/lib/pkp/templates/images/icons/text_unlock.png)
![Доступ закрыт](https://rjdentistry.com/lib/pkp/templates/images/icons/text_lock.png)
Аннотация
Путем экспериментального измерения нанесенных ионно-плазменным напылением тонких пленок SiC было показано, что эллипсометрический контроль технологического процесса изготовления сложных композиционных покрытий, позволяющий точно выбрать время нанесения покрытия для получения нужной толщины.
Ключевые слова
Полный текст
![Доступ закрыт](https://rjdentistry.com/lib/pkp/templates/images/icons/text_lock.png)
Об авторах
А. П Воронов
ГБОУ ВПО «Московский государственный медико-стоматологический университет им. А.И. Евдокимова»Кафедра комплексного зубопротезирования 127206, г. Москва
Игорь Анатольевич Воронов
ГБОУ ВПО «Московский государственный медико-стоматологический университет им. А.И. Евдокимова»
Email: voronov77@mail.ru
Кафедра комплексного зубопротезирования 127206, г. Москва
Е. А Митрофанов
ОАО «НИИ вакуумной техники им. С.А. Векшинского»117105, г. Москва
Список литературы
- Vedam K. Spectroscopic ellipsometry: a historical overview. Thin Solid Films. 1998; 313-314: 1-9.
- Azzam R.M.A. Ellipsometry. In: Handb. Opt. Vol. I: Geom. Phys. Opt. Polariz. Light. Components Instruments. Third Ed. / Ed. M. Bass. McGraw Hill Professional, Access Engineering; 2010: 16.116.25.
- Воевода М.И. и др. Применение эллипсометрии для исследований биоорганических сред. Автометрия. 2011; 47(5): 114-21.
- Kolodnyi G.Y. et al. Ion beam optical coatings for visible and near-IR lasers. In: Laser Opt. 2000 / Ed V.I. Ustugov. International Society for Optics and Photonics; 2001: 120-5.
- Крылова Т.Н., Бохонская И.Ф., Карапетян Г.А. Измерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методами. Оптика и спектроскопия. 1980; 49(4): 802-8.
- Anusavice K.J. Phillips’ Science of Dental Materials. 11th Ed. Elsevier Health Sciences; 2003.
- Gautam R. et al. Biocompatibility of polymethylmethacrylate resins used in dentistry. J. Biomed. Mater. Res. B: Appl. Biomater. 2012; 100(5): 1444-50.
- Nikawa H., Yamamoto T., Hamada T. Effect of components of resilient denture-lining materials on the growth, acid production and colonization of Candida albicans. J. Oral Rehabil. 1995; 22(11): 817-24.
- Austin A.T., Basker R.M. The level of residual monomer in acrylic denture base materials with particular reference to a modified method of analysis. Br. Dent. J. 1980; 149(10): 281-6.
- Kallus T., Mjor I.A. Incidence of adverse effects of dental materials. Scand. J. Dent. Res. 1991; 99(3): 236-40.
- Takami Y. et al. Protein adsorption onto ceramic surfaces. J. Biomed. Mater. Res. 1998; 40(1): 24-30.
- Harder C., Rzany A., Schaldach M. Coating of vascular stents with antithrombogenic amorphous silicon carbide. Progr. Biomed. Res. 1999; 4: 71-7.
- Huguenin-Love J. et al. Growth and characterization of silicon carbide thin films on silicon using a hollow cathode pulse sputtering technique. Thin Solid Films. 2012; 520(7): 2395-408.
- Saddow S.E. et al. Chapter 2: SiC films and coatings: Amorphous, polycrystalline, and single crystal forms. Silicon Carbide Biotechnol. Elsevier; 2012: 17-61.
- Азарова В.В., Вольпян О.Д., Фокин В.В. Эллипсометрия градиентных диэлектрических нанопленок. В кн.: Труды X Межвузовской научной школы молодых специалистов «Концентрированные потоки энергии в космической технике, электронике, экологии и медицине». 2011; 19-27.
Дополнительные файлы
![](/img/style/loading.gif)